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汽車電子需要做的環(huán)境可靠性試驗

更新時間:2015-09-28      點擊次數(shù):1761

                    汽車電子需要做的環(huán)境可靠性試驗

汽車是由多達幾千個電子零部件組成的復雜產品,特別是隨著汽車產業(yè)的發(fā)展,控制電子部分、多媒體電子部分、導航及車載通信等等越來越多,使車輛復雜程度不斷加大。而這些電子零部件產品可靠性十分重要,直接決定了整車的安全及運行可靠性。特別是嚴苛的環(huán)境(運輸過程、存放、工作中、氣候等等),都在考驗著汽車電子產品的可靠性。本文簡單整理出汽車電子產品相關的環(huán)境可靠性試驗條件,以提供給廣大客戶參考。

目前世界范圍內,針對汽車電子產品有很多環(huán)境可靠性測試方面的要求及標準,而常用的標準主要有ISO 16750系列、EIA-364系列等,如下表1所示。

表1  常見的汽車電子測試標準列表

IEC60068-2 電工電子產品環(huán)境試驗

MIL-STD-202電子及電氣組件

EIA-364系列標準連接器

MIL-STD 微電子器件

MIL-STD-810 基礎環(huán)境試驗

ISO 16750 車載電設備

IPC-TM-650 PCB2.6部分

JASO-D001 車載電子設備

MIL-STD-750 半導體組件

AEC-Q200 被動組件的應力認證

GB/T2423 電工電子產品環(huán)境試驗

各企業(yè)標準



    不同的測試環(huán)境條件將會對產品產生不同的影響以及產生不同的故障,比如:高溫測試條件下產品的器件發(fā)生以下影響 老化、氣化、龜裂、軟化、溶融、膨脹蒸發(fā)等,對應的汽車將會出現(xiàn)電路系統(tǒng)絕緣不良、機械的故障、機械的應力增加。 低溫測試條件下產品的器件發(fā)生以下影響 脆化、結冰、收縮凝固,機械強度降低等,對應的汽車將會出現(xiàn)電路系統(tǒng)絕緣不良、龜裂機械故障、密封故障等。常見的環(huán)境可靠性測試項目如下表2所示。


表2   汽車電子產品相關可靠性測試列表

高溫試驗

低溫試驗

溫濕度儲存試驗

溫濕度循環(huán)試驗

鹽霧試驗

沙塵(防塵)試驗

熱沖擊試驗

耐候耐光試驗

耐燃試驗

泥水試驗

結露試驗

雨淋(防水)試驗

高變率溫度循環(huán)試驗

熱空氣老化試驗

//溫復和試驗

氣體腐蝕試驗

 浸水/滲水試驗 





而由于汽車不同部位的環(huán)境可靠性要求不同,如:對于溫度環(huán)境條件,汽車前儀表板上部要求zui大須120℃、下部71℃,客艙底板部位105℃等。所以對于不同用途、不同安裝部位的汽車電子產品,其環(huán)境可靠性測試條件也不盡相同。下表列出了一些常見汽車電子產品的主要測試項目及測試條件。

表3   部分汽車電子產品的常用測試條件

測試對象

測試條件

機車用IC

–40℃~125 、風吹、日曬、高震動

儀表板操作試驗:

-40℃~ 85 

馬達控制器試驗條件:

操作試驗溫度:40℃~ 110

車用藍牙耳機試驗條件: 

保存試驗溫度:-40℃~+85 ℃, 操作試驗溫度-20℃~+65

衛(wèi)星定位(GPS) 試驗條件:

高溫操作試驗溫度:85

低溫操作試驗溫度:-40

胎壓傳感器:

高溫操作試驗溫度:125 

低溫操作試驗溫度:-40 

衛(wèi)星定位(GPS)試驗條件:

1.低溫操作試驗:-40常溫→70(2小時)→ -20(2小時)→常溫

2.高溫操作試驗:85 

車燈、儀表板:

汽車儀表背光板操作試驗:
R.T.(1H)→RAMP(2H)→65/90±5(4H)→RAMP(2H)→40/90±5
R.H.(10H)→RAMP(2H)→-30(2H) RAMP(1H)→R.T.(1H)  

室內燈:

高溫保存110℃放置6H

高溫操作70/13.2V 點燈,連續(xù)12H

復合式振動:-40℃~804.4G 振幅2mm 頻率33.3Hz 上下振動4H

車外燈操作試驗:

試驗1.車外燈復合式操作:R.T.(2H)→RAMP(1H)→80(2H)→RAMP(2H) →-30(2H)→RAMP(1H)→R.T(2H) 

試驗2. 震幅2mm ,頻率33.3Hz ,加速度4.4G 

試驗3.車外燈溫度循環(huán):R.T.(2H)→RAMP(45min)→-30(2H) →RAMP(1.5H)→80(3H)→RAMP(45min) 




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